Optical MicroGauge 膜厚测量系统 C11011 是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在 60 Hz 时进行高速测量，因此也可用于工厂内的线阵测量。与可选的映射系统结合使用，以便进行原型厚度分布测量。它可用于从监控制造过程到质量控制的各种用途。C11011-22 可测量 25 μm 至 2.2 mm 以及 10 μm 至 0.9 mm 的玻璃。（可测量层数：最多 10 层）

Optical MicroGauge 膜厚测量系统 C11011 是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在 60 Hz 时进行高速测量，因此也可用于工厂内的线阵测量。与可选的映射系统结合使用，以便进行原型厚度分布测量。它可用于从监控制造过程到质量控制的各种用途。C11011-02W 可测量 25 μm 至 2.9 mm 以及 10 μm 至 1.2 mm 的玻璃。

Optical MicroGauge 膜厚测量系统 C11011 是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在 60 Hz 时进行高速测量，因此也可用于工厂内的线阵测量。与可选的映射系统结合使用，以便进行原型厚度分布测量。它可用于从监控制造过程到质量控制的各种用途。C11011-02 可测量 25 μm 至 2.2 mm 以及 10 μm 至 0.9 mm 的玻璃。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10323 是一种显微膜厚测量系统。如果物体具有会产生高水平散射光的不规则表面，则无法在宏观层面上进行测量。对于这些类型的对象，测量小面积会减少散射光，从而可以进行测量。 C10323-02E 的电源电压为 AC200 V 至 AC240 V。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10323 是一种显微膜厚测量系统。如果物体具有会产生高水平散射光的不规则表面，则无法在宏观层面上进行测量。对于这些类型的对象，测量小面积会减少散射光，从而可以进行测量。C10323-02 的电源电压为 AC100 V 至 AC120 V。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C13027 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统，可根据需要轻松安装在设备中。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10178 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。通过光谱干涉法以高灵敏度和高精度快速测量薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪 PMA 作为探测器，可以测量量子产率、反射、透射/吸收和各种其他点，同时测量各种滤光片和涂层膜的厚度等。

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C15151-01 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。这种大功率、高度稳定的白光源支持精确测量薄膜厚度，即使是超薄薄膜也是如此。此外，光源的使用寿命为 10,000 小时，适用于在线操作。

L15077-C7 超连续谱光源是一款紧凑型激光光源，可发射由超短脉冲激光器引起的非线性光学现象产生的宽带近红外激光。它具有激光的高方向性和高辉度以及灯光源的广谱性等特点。与其他公司的超连续谱光源相比，L15077-C7 的光输出稳定性更高，从而可在各种用途中提供准确的测量、分析和检测。

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。

PLP-10 是利用激光二极管 (LD) 的超短脉冲光源。它由一个 LD 头和一个控制器组成。 PLP-10 是测量光电检测器设备响应、光学记录设备特性或寿命测量的理想光源。