Quantaurus-Tau 是用于测量亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命的紧凑型系统。操作非常简单，只需将样品放置到样品室，然后在测量软件上输入几个条件，即可在短时间内高精度地测量荧光寿命和 PL 光谱。在典型测量中，只需 60 秒即可获得分析结果。C16361-02 是 NIR 型号。（样品：固体（薄膜・粉末），波长范围：380 nm 至 1030 nm）。

Quantaurus-Tau 是用于测量亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命的紧凑型系统。操作非常简单，只需将样品放置到样品室，然后在测量软件上输入几个条件，即可在短时间内高精度地测量荧光寿命和 PL 光谱。在典型测量中，只需 60 秒即可获得分析结果。C16361-01 是标准型号。（样品：固体（薄膜・粉末），波长范围：300 nm 至 800 nm）。

有机 LED 或其他光源等器件的发光随视角而变化很大。因此，为了正确表征此类样品，需要测量不同检测角度的辉度、色度和发射光谱。滨松 C9920-11 光分布特性测量系统采用旋转载物台作为样本安装，并配有高灵敏度探测器，可满足这些需求。

C9920-03G；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-03G 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C9920-03；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-03 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C9920-02G；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-02G 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C9920-02；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-02 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C11347-12：NIR 类型（波长 400 nm 至 1100 nm）。

C11347-11：标准型（波长 300 nm 至 950 nm）。

发光材料的特征在于其荧光量子产率。对于有机和无机 LED 之类的发光器件，相应的物理值是外部量子效率，通常通过电致发光 (EL) 方法测量。对于此应用，外量子效率测量系统 C9920-12 应运而生。

C13534-12 设计用于使用光致发光法测量发光量子产率的瞬时绝对值。（400 nm 至 1100 nm）。此外，使用新设计的选件可轻松扩展的功能，可在高达 1650 nm 的近红外光下以高灵敏度（评估低量子产率）和上变频发光进行测量。

C13534-11 设计用于使用光致发光法测量发光量子产率的瞬时绝对值。（300 nm 至 950 nm）。此外，使用新设计的选件可轻松扩展的功能，可在高达 1650 nm 的近红外光下以高灵敏度（评估低量子产率）和上变频发光进行测量。

ODPL 测量系统使用积分球来测量全向光致发光光谱并确定样品的发射效率。此过程是非破坏性和无接触的，可以立即计算 IQE（内部量子效率）。IQE 是 GaN 单晶体质量评估所必需的，GaN 单晶体作为功率器件材料受到瞩目。对钙钛矿晶体的质量评估也有必要，预计这些元素有助于提高太阳能发电和 LED 的效率。

C14631-03 是高灵敏度、性价比卓越的型号。（300 nm 至 1040 nm）

C14631-02 是高灵敏度、性价比卓越的型号。（250 nm 至 840 nm）