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    HAMAMATSU 滨松  C10323-02   Optical NanoGauge 膜厚测量系统

    HAMAMATSU 滨松 C10323-02 Optical NanoGauge 膜厚测量系统

    HAMAMATSU 滨松 C10323-02 Optical NanoGauge 膜厚测量系统

    Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10323 是一种显微膜厚测量系统。如果物体具有会产生高水平散射光的不规则表面,则无法在宏观层面上进行测量。对于这些类型的对象,测量小面积会减少散射光,从而可以进行测量。C10323-02 的电源电压为 AC100 V 至 AC120 V。

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    HAMAMATSU 滨松  C10323-02   Optical NanoGauge 膜厚测量系统 

    特点

    • 微视野厚度测量
    • 高速度和高精度
    • 分析光学常数(n、k)
    • 提供外部控制

    详细参数

    型号C10323-02
    可测量的薄膜厚度范围(玻璃)20 nm 至 50 μm
    测量重现性(玻璃)0.02 nm
    测量精度(玻璃)±0.4%
    光源卤素光源
    测量波长400 nm 至 1100 nm
    光斑尺寸φ8 μm 至 φ80 μm
    工作距离请参阅物镜列表
    可测量层数最多 10 层
    分析FFT 分析、拟合分析、光学常数分析
    外部控制功能RS-232C、PIPE、以太网
    接口USB 2.0
    电源AC100 V 至 AC120 V,50 Hz/60 Hz
    功耗约 250 VA

    ①当以玻璃折射率 1.5 进行转换时。

    ② 测量 400 nm 厚玻璃膜时的标准偏差(容差)。

    ③ 取决于使用的光学系统或物镜放大率。

    ④ VLSI 标准测量保证文件中记录的测量保证范围。


    尺寸

    c10323 外形尺寸图

     

     

     

    a10406-02 外形尺寸图

    a10407-01 外形尺寸图

     

     

     

    a10407-02 外形尺寸图

    l6758-11 外形尺寸图

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